[发明专利]软件缺陷检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510640770.7 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN105204997B 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 衷璐洁 申请(专利权)人: 首都师范大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 江崇玉
地址: 100048 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种软件缺陷检测方法及装置,属于计算机领域。所述方法包括:基于指定错误类型,从待检测源代码中,获取初检代码集合,所述初检代码集合中包括多个存在潜在缺陷的代码段;对于所述初检代码集合中的每个代码段,对所述代码段进行危险路径筛选,得到所述代码段的指令集,所述指令集中包括危险路径;分别对所述每个代码段的指令集进行路径可行性检测,以对所述待检测源代码进行软件缺陷检测。本发明通过对所获初检代码集合包括的代码段中的路径进行危险路径筛选,并对危险路径进行路径可行性检测,进而在保证软件缺陷检测的准确性的前提下,减小缺陷检测所消耗的时间,提高软件缺陷检测的效率。
搜索关键词: 软件 缺陷 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种软件缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:基于指定错误类型,从待检测源代码中,获取初检代码集合,所述初检代码集合中包括多个存在潜在缺陷的代码段;对于所述初检代码集合中的每个代码段,对所述代码段中的路径进行二分决策图BDD标注,得到多个BDD路径标注;从所述多个BDD路径标注中,选择定值点的路径标注,得到多个第一路径标注,以及从所述多个BDD路径标注中,选择引用点的路径标注,得到多个第二路径标注;基于所述多个第一路径标注和所述多个第二路径标注,对所述代码段进行危险路径筛选,得到所述代码段的指令集,所述指令集中包括危险路径;分别对所述每个代码段的指令集进行路径可行性检测,以对所述待检测源代码进行软件缺陷检测。
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