[发明专利]一种基于双导轨零件外径检测方法有效
申请号: | 201510642460.9 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN105180874B | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | 林长青;曹学东;胡琦;杨胜;杨文志 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B21/10 | 分类号: | G01B21/10;G01B21/00;G01B21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于双导轨零件外径检测方法,该方法气浮导轨分别固定在大理石平台两边,调整使两气浮导轨平行;两测微仪分别运用辅助装置固定在气浮导轨上,被测零件放置在两气浮导轨中间,两量块组分别放置在零件两旁边且垂直于导轨运动方向;移动气浮导轨滑块,使两测微仪分别接触量块工作面中间,分别读取两测微仪示值a1、b1,然后移动气浮导轨,分别使测微仪与被测大型零件外圆接触并分别读取测微仪极值a0、b0,然后再次移动气浮导,使两测微仪分别接触另一侧量块工作面中间,分别读取两测微仪示值a2、b2,然后计算零件外径。本发明结构简单、稳定,加工工艺易实现,相对于现有的三坐标测量技术,能够简化检测装置,能实现科研与批量化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 导轨 零件 外径 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种基于双导轨零件外径检测方法,该方法利用的部件包括大理石平台、气浮导轨、测微仪、量块组及辅助装置,其特征在于:所述的双导轨零件外径检测方法是由量块组作为测量基准,运用气浮导轨和测微仪组成测量比对装置;对被测件进行比对测量;具体的过程为:气浮导轨分别固定在大理石平台两边,调整使两气浮导轨平行;两测微仪分别运用辅助装置固定在气浮导轨上,被测零件放置在两气浮导轨中间,两量块组分别放置在零件两旁边且垂直于导轨运动方向;移动气浮导轨滑块,使两测微仪分别接触量块工作面中间,分别读取两测微仪示值a1、b1,然后移动气浮导轨,分别使测微仪与被测大型零件外圆接触并分别读取测微仪极值a0、b0,然后再次移动气浮导,使两测微仪分别接触另一侧量块工作面中间,分别读取两测微仪示值a2、b2,然后计算被测大型零件外形尺寸;双导轨法测量零件外形尺寸计算公式为:式中:D外形尺寸—被测零件外形尺寸,mm;a1、a0、a2—测微仪A示值,mm;b1、b0、b2—测微仪B示值,mm;La、Lb—量块尺寸,mm。
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