[发明专利]确定测量序列中的时间窗在审
| 申请号： | 201510643116.1 | 申请日： | 2015-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN105467341A | 公开（公告）日： | 2016-04-06 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·本纳;斯文·卡姆帕格纳;托尔斯滕·法伊魏尔;贝恩德·屈恩;托尔斯滕·施佩克纳;彼得·施派尔;丹尼尔·尼科·施普利特霍夫 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R33/54 | 分类号： | G01R33/54 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，其中能够在正进行的测量中改变测量的设定参数的值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据，包括如下步骤：加载测量序列；基于测量序列中的使用相干性的分析来确定测量序列中的时间窗，在时间窗中能够在正进行的测量中改变设定参数的数值；将所确定的时间窗存储和/或继续处理。根据本发明的对使用相干性的分析能简单地执行，因为对此所需的信息已固有地包含在测量序列中。根据本发明的方法允许：极简单地确定测量序列中的时间窗，在时间窗中能够改变设定参数。通过确定其中能够改变设定参数的时间窗显著地简化测量流程与设定参数的改变的同步。此外，能够使用所确定的时间窗以节约能量。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 测量 序列 中的 时间 | ||
【主权项】：
一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，在所述时间窗中能够在进行着的测量中改变测量的设定参数的值而没有不利地影响利用所述测量获得的测量数据，所述方法包括如下步骤：加载测量序列，基于对所述测量序列中的使用相干性的分析来确定所述测量序列中的时间窗，在所述时间窗中能够在进行着的所述测量中改变所述设定参数的值，存储和/或继续处理所确定的所述时间窗。
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