[发明专利]半导体元件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201510644705.1 申请日: 2015-10-08
公开(公告)号: CN106571383B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 陈建宏;黄世贤;杨玉如;江怀慈;李皞明;林胜豪;蔡成宗;吴俊元 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/66
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包括:半导体基材以及半导体鳍片。半导体基材具有一个上表面(upper surface)及一个由上表面延伸进入半导体基材之中的凹室(recess)。半导体鳍片位于凹室中,并向上延伸超过上表面,且与半导体基材直接接触,而在凹室的至少一个侧壁上形成一个半导体异质接面(semiconductor hetero‑interface)。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制作方法
【主权项】:
一种半导体元件,包括:半导体基材,具有一上表面(upper surface)及一凹室(recess)由该上表面延伸进入该半导体基材之中;以及半导体鳍片,位于该凹室中,并向上延伸超过该上表面,且与该半导体基材直接接触,而在该凹室的至少一侧壁上形成一半导体异质接面(semiconductor hetero‑interface)。
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