[发明专利]采样频率偏差的计算方法及装置在审
| 申请号： | 201510645397.4 | 申请日： | 2015-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN106572041A | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 史顺达;程晨;赵艳艳 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L27/26 | 分类号： | H04L27/26 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 张振伟,蒋雅洁 |
| 地址： | 518085 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种采样频率偏差值的计算方法，所述方法包括接收至少两段完全相同的前导序列；获取所述每段前导序列的信道频域响应；根据所述每段前导序列的信道频域响应计算出所述至少两段完全相同的前导序列的平均相位偏移值；根据所述平均相位偏移值得到采样频率偏差值。本发明实施例同时还公开了一种采样频率偏差值的计算装置。 | ||
| 搜索关键词： | 采样 频率 偏差 计算方法 装置 | ||
【主权项】：
一种采样频率偏差值的计算方法，其特征在于，所述方法包括：接收至少两段完全相同的前导序列；获取所述每段前导序列的信道频域响应；根据所述每段前导序列的信道频域响应计算出所述至少两段完全相同的前导序列的平均相位偏移值；根据所述平均相位偏移值得到采样频率偏差值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中兴微电子技术有限公司，未经深圳市中兴微电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510645397.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：穿戴式装置及其控制方法
- 下一篇：环境映射虚拟化机构
