[发明专利]一种具有纳米结构的非晶氧化物半导体薄膜及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510645745.8 申请日: 2015-10-08
公开(公告)号: CN105601121B 公开(公告)日: 2019-02-19
发明(设计)人: 吕建国;冯丽莎;江庆军;叶志镇 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C03C17/25 分类号: C03C17/25;C04B41/50
代理公司: 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙) 33231 代理人: 张宇娟;张燕秋
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种具有纳米结构的非晶氧化物半导体薄膜,该薄膜包括连续薄膜层和纳米结构层,连续薄膜层直接生长在衬底上;纳米结构层为连续薄膜层的纵向自然延伸,呈现间隔分布的凸起峰和凹陷坑。该薄膜为非晶氧化物半导体ZnTiSnO薄膜。本发明还公开了该薄膜的制备方法,采用溶液化学方法,步骤包括将Zn(NO3)2·6H2O、SnCl2·2H2O+NH4NO3及C12H28O4Ti+NH4NO3分别溶解于二甲氧基乙醇溶剂中,分别加入乙酰丙酮、氨水溶液配成前驱体溶液,配得溶胶,然后旋涂于衬底上,并退火处理。该非晶氧化物半导体薄膜因为具有纳米结构,具有大的比表面积,有望应用于生物传感、气敏、紫外探测等领域。
搜索关键词: 一种 具有 纳米 结构 氧化物 半导体 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种具有纳米结构的非晶氧化物半导体薄膜,其特征在于:所述非晶氧化物半导体薄膜包括连续薄膜层和纳米结构层,连续薄膜层直接生长在衬底上,纳米结构层为连续薄膜层的纵向自然延伸;其中纳米结构层呈现为间隔分布的凸起峰和凹陷坑:凸起峰与连续薄膜层为一体,为连续薄膜层持续生长而成;不连续的凸起峰之间形成凹陷坑,凹陷坑有碗状和溶洞状两种形态;其中所述非晶氧化物半导体薄膜的化学式为:ZnxTiySnzOx+2y+2z,其中y大于0且小于1,且x+y+z=1;且所述非晶氧化物半导体薄膜采用化学溶液方法制备,其中Ti的前驱体为C12H28O4Ti,并在薄膜生长中加入NH3·H2O促进C12H28O4Ti分解。
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