[发明专利]一种检测小孔与大孔偏心距离及与大孔端面距离误差的综合检具在审

专利信息
申请号: 201510646514.9 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN106556331A 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 周文杰 申请(专利权)人: 科华控股股份有限公司
主分类号: G01B5/252 分类号: G01B5/252;G01B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213354 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种检测小孔与大孔偏心距离及与大孔端面距离误差的综合检具。检具是由一件测杆、测杆与被测工件大孔滑动配合、以大孔定位、在测杆两端分别按工件小孔与大孔偏心距离误差范围制成的通端测头和止端测头。小孔内装有小孔基准轴,在测杆上套有测小孔与大孔端面距离误差的套圈。当测杆在被测工件大孔中待止通端均测合格后,可判断小孔与大孔偏心距离误差合格。将套圈移向大孔端面,检测测杆露出大孔部分的测深平面与套圈外部端面不等高缺口平面相对位置,如测深平面在套圈缺口范围内就可判断小孔与大孔端面距离误差合格。使用本检具由于是直接检测接触情况,就避免了人为追求将测棒塞入基准孔中而不断变换基准孔位置而产生的误判现象,使客户抱怨情况大大减少。
搜索关键词: 一种 检测 小孔 偏心 距离 端面 误差 综合
【主权项】:
一种检测小孔与大孔偏心距离及与大孔端面距离误差的综合检具,其特征在于:测杆的定位基准直径是与被测工件的大孔滑动配合,测杆两端有按被测工件的大小孔偏心距离误差范围制成的通端测头和止端测头,在测杆的基准直径上装有深度套圈,套圈外端按半圆范围开有按被测工件小孔与大孔端面距离误差范围制成的两个不等高半圆平面,测杆的定位直径当通端测头大端面接触到小孔基准轴,当深度误差为零时的处于被测工件外部的一个长度上有测深平面,其长度与套圈两个不等高平面的中点距离套圈底面的高度相同。
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