[发明专利]一种高精度强激光功率密度仪及检测方法在审

专利信息
申请号: 201510648124.5 申请日: 2015-10-09
公开(公告)号: CN105222888A 公开(公告)日: 2016-01-06
发明(设计)人: 段延敏;朱海永;尉鹏飞;王艳伟;何林李;于永丽;张耀举 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 浙江翔隆专利事务所(普通合伙) 33206 代理人: 戴晓翔
地址: 325035 浙江省温州市瓯海*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种高精度强激光功率密度仪及检测方法,所述高精度强激光功率密度仪包括进光窗口、真空腔、真空泵、高压电源、正高压电极、负高压电极、第一电源线、第二电源线、气体喷嘴、高次谐波、铝膜、软X射线光谱仪、软X射线摄像头、电脑控制线、个人电脑及待测激光;所述真空泵用于维持真空腔内的真空度;所述负高压电极与第一电源线连接,所述正高压电极与第二电源线连接,所述负高压电极与正高压电极之间产生的静电场用于二氧化碳分子的取向定位。
搜索关键词: 一种 高精度 激光 功率 密度仪 检测 方法
【主权项】:
一种高精度强激光功率密度仪及检测方法,其特征在于所述高精度强激光功率密度仪包括进光窗口、真空腔、真空泵、高压电源、正高压电极、负高压电极、第一电源线、第二电源线、气体喷嘴、高次谐波、铝膜、软X射线光谱仪、软X射线摄像头、电脑控制线、个人电脑及待测激光;所述真空泵用于维持真空腔内的真空度;所述负高压电极与第一电源线连接,所述正高压电极与第二电源线连接,所述负高压电极与正高压电极之间产生的静电场用于二氧化碳分子的取向定位;所述气体喷嘴内装有二氧化碳分子,可形成二氧化碳喷流;所述待测激光与二氧化碳喷流相互作用产生高次谐波,只透过高次谐波进入X射线光谱仪;所述铝膜用于阻挡残余的待测激光;所述高次谐波通过X射线光谱仪进行光谱衍射分辨并通过X射线摄像头进行辐射强度的拍摄记录;所述软X射线摄像头与电脑控制线连接,所述电脑控制线与个人电脑连接;所述软X射线光谱仪由球面镜、柱面镜、狭缝和平场X射线光栅组成。
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