[发明专利]用于空间超大尺寸结构的面形与距离高精度测量方法在审

专利信息
申请号: 201510655797.3 申请日: 2015-10-12
公开(公告)号: CN105241395A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 满孝颖;方无迪;彭海阔;杨勇;王志国;王舒楠;林德贵;任友良 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/14
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种用于空间超大尺寸结构的面形与距离高精度测量方法,包括:步骤1:通过伺服马达控制激光雷达扫描仪对被测结构进行扫描,得到被测结构上各个扫描点的极坐标数据(R,γ,θ);步骤2:将各个扫描点的极坐标数据转换为直角坐标系数据,形成被测结构的面形信息;步骤3:根据直角坐标系数据拟合出等效平面;步骤4:根据等效平面得到被测结构的距离信息与空间倾斜角信息。本发明的测量方法可以对空间超大尺寸结构进行面形与距离高精度测量,以便后续调节和控制。
搜索关键词: 用于 空间 超大 尺寸 结构 距离 高精度 测量方法
【主权项】:
一种用于空间超大尺寸结构的面形与距离高精度测量方法,其特征在于,包括:步骤1:通过伺服马达控制激光雷达扫描仪对被测结构进行扫描,得到被测结构上各个扫描点的极坐标数据(R,γ,θ);其中,激光雷达扫描仪用于向被测结构发出红外测距激光,伺服马达,用于改变红外测距激光出射的方位角γ、俯仰角θ;R表示激光雷达扫描仪所在的测量基准点与扫描点之间的距离;步骤2:将各个扫描点的极坐标数据转换为直角坐标系数据,形成被测结构的面形信息;步骤3:根据直角坐标系数据拟合出等效平面;步骤4:根据等效平面得到被测结构的距离信息与空间倾斜角信息。
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