[发明专利]流水线ADC的前台校准方法

摘要

本发明提供了一种流水线ADC的前台校准方法，包括如下步骤：S10.检测第一流水级的采样电容序列Cs，1，Cs，2，Cs，3，…，Cs，N‑1，Cs，N中各采样电容Cs，i之间的大小关系，其中i＝1，2，…，N；S20.对所述各采样电容Cs，i按照从小到大的顺序排序，以得到排序后的采样电容的索引序列j1，j2，j3，j4，…，jN，其中jk表示排序后的采样电容Cs，i的索引i，k＝1，2，…，N；S30.按照所述索引序列对所述采样电容序列进行重新排序得到新的采样电容序列C′s，j1，C′s，jN，C′s，j2，C′s，jN‑1，C′s，j3，C′s，jN‑2，…，C′s，jM。该方法可以在不牺牲SNR和输入信号幅度的条件下，提高SFDR。

主权项

一种流水线ADC的前台校准方法，其特征在于，包括如下步骤：S10.检测第一流水级的采样电容序列Cs，1，Cs，2，Cs，3，...，Cs，N‑1，Cs，N中各采样电容Cs，i之间的大小关系，其中i＝1，2，...，N；S20.对所述各采样电容Cs，i按照从小到大的顺序排序，以得到排序后的采样电容的索引序列j1，j2，j3，j4，...，jN，其中jk表示排序后的采样电容Cs，i的索引i，k＝1，2，...，N；S30.按照所述索引序列对所述采样电容序列进行重新排序，以得到校准后的采样电容序列C′s，j1，C′s，jN，C′s，j2，C′s，jN‑1，C′s，j3，C′s，jN‑2，...，C′s，jM，其中当N为偶数时M＝N/2+1，当N为奇数时M＝(N+1)/2。