[发明专利]一种基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法

摘要

本发明涉及文物保护技术领域，公开了一种基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法，包括：1）、在红外光谱仪的检测台上放置反射薄片，将待测纺织品文物平铺于反射薄片上。2）、调整近红外光谱仪的检测探头，将检测探头与纺织品文物的距离控制在0.2‑1mm，进行近红外光谱信息采集，得到纺织品文物的近红外光谱图。3）、将近红外谱图进行S.Golay平滑滤波，然后进行二阶导数谱图处理。4）、将处理后的近红外谱图与纺织品近红外标准谱图进行对比，鉴别出纺织品文物的材质。本发明方法在不对样品进行破坏、施压的前提下，可提高样品的近红外光反射率，结合独特的数据处理方法，能够快速无损的鉴别纺织品文物的材质。 1

主权项

1.一种基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法，其特征在于包括如下步骤：

1）、在红外光谱仪的检测台上放置一片平整的反射薄片，将待测纺织品文物平铺于所述反射薄片上；其中，所述纺织品文物在平铺前经过预处理，具体方法如下：用毛刷蘸取乙醇对纺织品文物上待检测部位进行润湿、清洗，接着用毛刷蘸取丙酮对纺织品文物上已润湿的部位继续进行润湿，然后将纺织品文物在温度为25‑30℃，相对湿度为30‑40%的环境下干燥15‑30min；其中，乙醇的用量为1‑2mL/cm³，丙酮的用量为1.5‑2.5mL/cm³；

2）、调整近红外光谱仪的检测探头，将所述检测探头与所述纺织品文物的距离控制在0.2‑1mm的范围内，然后进行近红外光谱信息采集，得到纺织品文物的近红外光谱图；

3）、将所得的近红外谱图进行S.Golay平滑滤波，平滑度为1‑3，然后通过Nicolet Omnic 红外光谱处理软件进行二阶导数谱图处理，多项式项数为3‑6；

4）、将上述处理后的近红外谱图与纺织品近红外标准谱图进行对比，鉴别出所述纺织品文物的材质。

2.如权利要求1所述的基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法，其特征在于，所述反射薄片为表面镀有金、银、氧化铝、二氧化硅中一种或多种材料的镀层的薄片。

3.如权利要求2所述的基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法，其特征在于，所述反射薄片上镀层的厚度为0.6‑0.8mm。

4.如权利要求1所述的基于红外光谱无损无压力鉴别纺织品文物材质的方法，其特征在于，在步骤2)中进行近红外光谱信息采集时，环境温度控制在20‑25℃，环境相对湿度控制在50‑60%。