[发明专利]互补场效应晶体管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510671009.X 申请日: 2015-10-15
公开(公告)号: CN106601738B 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 肖德元 申请(专利权)人: 上海新昇半导体科技有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 金华
地址: 201306 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种互补场效应晶体管及其制备方法,包括:半导体衬底,位于半导体衬底中的相互隔离的N型场效应晶体管和P型场效应晶体管;N型场效应晶体管包括第一锗纳米线、包围在第一锗纳米线四周的第一III‑V化合物层、位于第一III‑V化合物层上的第一势垒层、第一栅介质层和第一栅电极,以及分别位于第一栅电极两侧的第一源区和第一漏区;P型场效应晶体管包括第二锗纳米线、包围在第二锗纳米线四周的第二III‑V化合物层、位于第二III‑V化合物层上的第二势垒层、第二栅介质层和第二栅电极,以及分别位于第二栅电极两侧第二源区和第二漏区。本发明互补场效应晶体管形成二维电子气和二维空穴气,且为栅极全包围的器件,载流子迁移率高。
搜索关键词: 互补 场效应 晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种互补场效应晶体管,其特征在于,包括:半导体衬底;位于所述半导体衬底中的N型场效应晶体管,所述N型场效应晶体管包括第一锗纳米线、包围在第一锗纳米线四周的第一III‑V化合物层、位于所述第一III‑V化合物层上的第一势垒层、第一栅介质层和第一栅电极,以及分别位于所述第一栅电极两侧的第一源区和第一漏区;第一势垒层与第一III‑V化合物层之间形成N型场效应晶体管的异质结结构,并在第一III‑V化合物层中靠近第一势垒层的界面处形成二维电子气;位于所述半导体衬底中的P型场效应晶体管,所述P型场效应晶体管与所述N型场效应晶体管之间通过介质层隔离,所述P型场效应晶体管包括第二锗纳米线、包围在第二锗纳米线四周的第二III‑V化合物层、位于所述第二III‑V化合物层上的第二势垒层、第二栅介质层和第二栅电极,以及分别位于所述第二栅电极两侧第二源区和第二漏区;第二锗纳米线和第二III‑V化合物层之间形成P型场效应晶体管的异质结结构,并在第二锗纳米线中靠近第二III‑V化合物层的界面处形成二维空穴气。
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