[发明专利]一种变电站间隔层联闭锁逻辑自动闭环测试方法有效

专利信息
申请号: 201510674213.7 申请日: 2015-10-16
公开(公告)号: CN105388370B 公开(公告)日: 2018-08-14
发明(设计)人: 张海东;窦仁晖;耿明志;赵国庆;黄树帮;杨青;倪益民;吴艳平;袁浩 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院;国家电网公司;江苏省电力公司电力科学研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种变电站间隔层联闭锁逻辑自动闭环测试方法,包括加载SCD模型与间隔层联闭锁逻辑规则,提取被测间隔层联闭锁逻辑运算关联的信号量和逻辑运算结果对应的索引Reference;自动生成联闭锁逻辑测试任务序列,判断测试场景中的测控装置;其中,每一条测试任务包含联闭锁逻辑测试的一次设备名称和描述、关联的信号量和对应的值、索引和联闭锁逻辑预计结果;构建支持联闭锁逻辑自动化闭环测试的多场景,获取在测试场景下的联闭锁逻辑运算的结果;对逻辑运算结果进行评估。该方法适用于站内本地和远方调度自动化闭环测试,可避免改扩建需要停电运行装置,提高了测试效率,节约调试人工费时费力的工作成本,有利于保证防误闭锁逻辑的正确性。
搜索关键词: 一种 变电站 间隔 闭锁 逻辑 自动 闭环 测试 方法
【主权项】:
1.一种变电站间隔层联闭锁逻辑自动闭环测试方法,其特征在于,所述方法包括:(1)加载SCD模型与间隔层联闭锁逻辑规则,提取被测间隔层联闭锁逻辑运算关联的信号量和逻辑运算结果对应的索引Reference;(2)自动生成联闭锁逻辑测试任务序列,判断测试场景中的测控装置;其中,每一条测试任务包含联闭锁逻辑测试的一次设备名称和描述、关联的信号量和对应的值、索引和联闭锁逻辑预计结果;所述步骤(2)中,自动生成联闭锁逻辑测试任务序列包括:通过逻辑规则中的一次设备路径准确定位SCD模型的一次设备模型,根据一次设备模型与二次设备模型关联关系检索获得被测试IED;依据二次设备模型之间的虚回路关联关系检索获得被测试IED关联的跨间隔IED;其中,所述被测试的IED分别通过站控层访问点S1、逻辑设备和逻辑节点的顺序,组织逻辑信号量、逻辑运算结果用于虚拟置值的取代Reference;(3)构建支持联闭锁逻辑自动化闭环测试的多场景,获取在测试场景下的联闭锁逻辑运算的结果;(4)对逻辑运算结果进行评估。
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