[发明专利]一种薄板的组织定位制样方法在审
申请号: | 201510675357.4 | 申请日: | 2015-10-16 |
公开(公告)号: | CN105300762A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 关云;王志奋;马家艳;邓照军;许竹桃;吴立新;周元贵;黄海娥;杨志婷 | 申请(专利权)人: | 武汉钢铁(集团)公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人: | 王和平 |
地址: | 430080 湖北省武汉市武昌*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种薄板的组织定位制样方法,其步骤包括:(1)将薄板沿厚度方向,垂直薄板的板面垂直截取板面试样及截面试样,再将板面试样与截面试样固定在一起,保持板面试样的板面和截面试样的厚度面在同一个平面上;(2)对板面试样和截面试样进行金相抛光或腐蚀操作,观察组织的变化情况,确定截面组织发生变化时相应的板厚位置;(3)将同一平面的板面试样的板面和截面试样的厚度面同时进行磨制,使板面试样的厚度达到步骤(2)确定需要的板厚位置。本发明将组织定位与厚度定位相结合,实现多层次定位分析,尤其是渗层及镀层在厚度方向的组织变化具有不确定性,本方法能够根据组织的变化,灵活且准确的定位制样,实用性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄板 组织 定位 方法 | ||
【主权项】:
一种薄板的组织定位制样方法,其步骤包括:(1)将薄板沿厚度方向,垂直薄板的板面垂直截取板面试样及截面试样,再将板面试样与截面试样固定在一起,保持板面试样的板面和截面试样的厚度面在同一个平面上;(2)对板面试样和截面试样进行金相抛光或腐蚀操作,观察组织的变化情况,确定截面组织发生变化时相应的板厚位置;(3)将同一平面的板面试样的板面和截面试样的厚度面同时进行磨制,使板面试样的厚度达到步骤(2)确定需要的板厚位置。
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