[发明专利]基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头及方法有效
| 申请号： | 201510682421.1 | 申请日： | 2015-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN105259523B | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 詹志伟;陈晓玟;杨东浩;林小龙;伍文冬;谢致薇;陈先朝;杨元政 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01R33/18 | 分类号： | G01R33/18 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 510006 广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明是一种基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头及其制造方法。包括有基板、激励线圈、磁芯主轴、检测线圈，其中漆包铜线绕制在激励线圈胶管上形成激励线圈，漆包铜线绕制在检测线圈胶管上形成检测线圈，固定件固定在基板上，激励线圈胶管的一端固定在固定件上，激励线圈胶管的这一端不能运动，检测线圈胶管的一端穿过固定件，检测线圈胶管的这一端能自由水平移动，磁芯主轴的两端分别插入激励线圈胶管的另一端和检测线圈胶管的另一端，且检测线圈胶管能自由水平移动的这一端与磁控形状记忆合金连接。本发明克服了应变电阻仪不可重复性的缺陷，提高了检测磁致应变量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 胶管 检测线圈 激励线圈 固定件 应变量 磁致 自由水平移动 漆包铜线 磁通门 峰值法 探头 磁芯 基板 绕制 探测 磁控形状记忆合金 应变电阻 穿过 检测 制造 | ||
【主权项】：
1.一种基于峰值法磁通门技术的探测磁致应变量的探头, 包括有激励线圈、磁芯主轴、检测线圈，其中漆包铜线绕制在激励线圈胶管上形成激励线圈，漆包铜线绕制在检测线圈胶管上形成检测线圈，磁芯主轴的两端分别插入激励线圈胶管的一端和检测线圈胶管的一端，其特征在于还包括有基板及固定件，固定件固定在基板上，激励线圈胶管的另一端固定在固定件上，激励线圈胶管固定在固定件上的这端不能运动，检测线圈胶管的另一端穿过固定件，检测线圈胶管穿过固定件的这端能自由水平移动，且检测线圈胶管能自由水平移动的这端与磁控形状记忆合金连接。
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