[发明专利]几何产品表面形貌公差规范设计与认证的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201510682849.6 申请日: 2015-10-21
公开(公告)号: CN105868436B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 许源平 申请(专利权)人: 成都信息工程大学;许源平
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊
地址: 610225 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种几何产品表面形貌公差规范设计与认证的方法和系统,包括以下步骤:a、将输入的功能需求转换生成最简化表面形貌公差规范设计标注;b、根据最简化表面形貌公差规范设计标注,推导生成半完整的表面形貌公差规范设计标注;c、结合半完整的表面形貌公差规范设计标注和输入的约束项,推理生成制造过程和方法标注;d、结合完整的表面形貌公差规范设计标注中的操作算子和GPS认证不确定度;e、整合步骤a、b、c、d的生成项生成工作案例,并存入案例库中。本发明基于范畴纤维丛模型,彻底实现了自动生成公差规范设计标注以及严格依据生成的完整表面形貌公差规范设计标注智能指导与规范后序的加工制造与认证计量的相关工作。
搜索关键词: 几何 产品 表面 形貌 公差 规范 设计 认证 方法 系统
【主权项】:
1.几何产品表面形貌公差规范设计与认证的方法,其特征在于,包括以下步骤:a、将输入的功能需求转换生成表面形貌公差参数和公差带,即最简化表面形貌公差规范设计标注,其方法具体为:I、分析输入的功能需求,得出关键功能表面、功能表面所产生的最佳功能表现及功能表面的加工与计量的相关限制条件;II、通过用范畴纤维丛模型建模集成的产品几何量技术规范标准体系表面形貌功能相关矩阵推导能够准确表征所述关键功能表面的表面形貌公差参数;III、通过统计实验数据得出与功能表面的最佳功能表现最相匹配的表面形貌公差参数;IV、结合功能表面的加工与计量限制条件,综合分析步骤II、III得出的表面形貌公差参数,推理生成三个最佳的表面形貌公差参数,并为每一个最佳的表面形貌公差参数选择满足功能需求的公差带,形成最简化表面形貌公差规范设计标注;b、根据所述最简化表面形貌公差规范设计标注,自动推导生成半完整的表面形貌公差规范设计标注,并生成半完整的表面形貌公差规范设计标注中操作算子和操作算子内部相关控制实体的详细解释;c、结合所述半完整的表面形貌公差规范设计标注和输入的约束项,推理生成与所述半完整的表面形貌公差规范设计标注相匹配的目标几何产品的制造过程与加工方法标注,从而得到一个完整的表面形貌公差规范设计标注;d、结合所述完整的表面形貌公差规范设计标注中的操作算子和产品几何量技术规范标准体系认证不确定度,推理生成认证策略;e、整合步骤a、b、c、d的生成项生成工作案例,并存入案例库中。
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