[发明专利]三维扫描装置在审
| 申请号： | 201510694467.5 | 申请日： | 2015-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN105333837A | 公开（公告）日： | 2016-02-17 |
| 发明（设计）人： | 李琛 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;尹英 |
| 地址： | 201210 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种三维扫描装置，包括单光子传感器和处理单元。其中，单光子传感器向被照物表面的各个点发出特定波长和特定相位的单光子的发射激光，并接收这些发射激光被照物反射后的反射激光。处理单元则根据被照物表面每一点的二维坐标信息、每一发射激光与其反射后的反射激光的相位差计算出被照物表面每一点的三维坐标信息，从而也就可以得到被照物的三维轮廓信息。本发明能够在快速准确地获得被照物的三维轮廓信息。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 扫描 装置 | ||
【主权项】：
一种三维扫描装置，其特征在于，包括：单光子传感器，其向被照物表面各点发出特定波长和特定相位的单光子的发射激光并接收所述发射激光被所述被照物反射后的反射激光；以及处理单元，根据所述被照物表面每一点的二维坐标信息、每一所述发射激光与其反射后的所述反射激光的相位差计算出所述被照物表面每一点的三维坐标信息，以得到所述被照物的三维轮廓信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司，未经上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510694467.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：角度检测装置、测量装置
- 下一篇：车辆快速检查方法及系统
