[发明专利]一种N型碳化硅肖特基二极管结构在审

专利信息
申请号: 201510694903.9 申请日: 2015-10-22
公开(公告)号: CN106611776A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 苏冠创;黄升晖 申请(专利权)人: 南京励盛半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/16;H01L29/872
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210008 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种N型碳化硅肖特基二极管结构,包括以下特征在N型碳化硅肖特基二极管器件体内没有P型掺杂区,其中至少有一个沟槽,这沟槽的深度为0.5um至6.0um之间,宽度为0.4um至4.0um之间,沟槽内壁(侧边和底部)有一介质层物质,厚度为0.01um至1um,沟槽中间填以导电物质。这种沟槽结构是用来扩展器件在反向偏置时的耗尽层,避免电场过度集中而引起器件局部提早击穿。
搜索关键词: 一种 碳化硅 肖特基 二极管 结构
【主权项】:
一种N型碳化硅肖特基二极管结构包括以下部分:(1)有源区和终端区;(2)有源区和终端区体内没有P型掺杂区;(3)终端区内至少有一个沟槽用来扩展器件在反向偏置时的耗尽层。
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