[发明专利]一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法在审
| 申请号： | 201510694988.0 | 申请日： | 2015-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN105224460A | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 赵霞 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 张靖 |
| 地址： | 250101 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法，所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中插入一些探针，通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据，通过对这些数据的分析，获得程序的控制流和数据流信息，进而得到动态信息测试覆盖率，从而实现测试目的；所述测试覆盖率采用层次覆盖率，按照程序粒度划分为三个层次：api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率，三个层次的覆盖率由粗到细，相互关联。本发明通过计算三个层次的测试覆盖率，三种覆盖率相结合，一定程度减少过度集中调用对数据的影响；根据项目测试阶段和覆盖率数据，有理有据的、灵活的判断测试的有效性，防止互相推诿、无视事实，提高项目管理的科学性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 技术 统计 测试 覆盖率 方法 | ||
【主权项】：
一种基于插装技术统计测试覆盖率的方法，其特征在于：所述方法在保证被测程序原有逻辑完整性的基础上在程序中插入一些探针，通过探针的执行并抛出程序运行的特征数据，通过对这些数据的分析，获得程序的控制流和数据流信息，进而得到动态信息测试覆盖率，从而实现测试目的；所述测试覆盖率采用层次覆盖率，按照程序粒度划分为三个层次：api覆盖率、函数覆盖率、代码条件分支覆盖率，三个层次的覆盖率由粗到细，相互关联。
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