[发明专利]一种保持研磨机台研磨率平衡的方法在审

专利信息
申请号: 201510703181.9 申请日: 2015-10-26
公开(公告)号: CN105397613A 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 吴科;文静;张传民 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: B24B37/00 分类号: B24B37/00;B24B1/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及化学机械研磨领域,具体涉及一种保持研磨机台研磨率平衡的方法,所述研磨机台包括研磨盘、研磨垫、研磨头和研磨垫修整器,所述方法包括:提供一待研磨的半导体器件;将所述半导体器件放置于所述研磨机台上,以对所述半导体器件进行化学机械研磨工艺;其中,利用所述研磨头的加压功能,通过调整研磨头对于研磨盘的压力,来弥补研磨垫与研磨垫修整器随着寿命变化而导致的研磨率的损失,从而保持研磨率的平衡。
搜索关键词: 一种 保持 研磨 机台 平衡 方法
【主权项】:
一种保持研磨机台研磨率平衡的方法,其特征在于,所述研磨机台包括研磨盘、研磨垫、研磨头和研磨垫修整器,所述方法包括:提供一待研磨的半导体器件;将所述半导体器件放置于所述研磨机台上,以对所述半导体器件进行化学机械研磨工艺;其中利用所述研磨头的加压功能,通过调整研磨头对于研磨盘的压力,来弥补研磨垫与研磨垫修整器随着寿命变化而导致的研磨率的损失,从而保持研磨率的平衡。
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