[发明专利]一种多参数特高频传感器性能综合评价方法在审

专利信息
申请号: 201510707049.5 申请日: 2015-10-27
公开(公告)号: CN106610480A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 杨圆;毕建刚;阎春雨;杨宁;袁帅;吴立远;王峰;张博文;常文治;高彬;黄智伟 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院;国家电网公司;国网安徽省电力公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司11271 代理人: 徐国文
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种多参数特高频传感器性能综合评价方法,包括采用GTEM小室对待测特高频传感器进行等效高度测试和灵敏度测试;采用网络分析仪对待测特高频传感器进行驻波比测试;采用GIS作为测试模型对待测特高频传感器进行故障模型信噪比测试。与现有技术相比,本发明提供的一种多参数特高频传感器性能综合评价方法,从等效高度、驻波比、灵敏度和故障模型信噪比四个方面综合评价特高频传感器的性能。
搜索关键词: 一种 参数 高频 传感器 性能 综合 评价 方法
【主权项】:
一种多参数特高频传感器性能综合评价方法,其特征在于,所述方法包括:采用GTEM小室对待测特高频传感器进行等效高度测试和灵敏度测试;采用网络分析仪对所述待测特高频传感器进行驻波比测试;采用GIS作为测试模型对所述待测特高频传感器进行故障模型信噪比测试。
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