[发明专利]一种气藏来源识别方法有效

专利信息
申请号: 201510711438.5 申请日: 2015-10-28
公开(公告)号: CN105242026B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 徐田武;谈玉明;齐仁理;李静;慕小水;丁峰 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司中原油田分公司勘探开发研究院
主分类号: G01N33/24 分类号: G01N33/24;G01V11/00
代理公司: 41119 郑州睿信知识产权代理有限公司 代理人: 牛爱周<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100728 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种气藏来源识别方法,属油气勘探开发技术领域。本发明充分应用目标区气体地化资料对气藏聚类有效性参数进行筛选,依据筛选的参数对天然气成因类型进行判定,然后依据不同母质天然气类型气体的成熟度及不同类型烃源岩镜质体反射率随深度的变化关系,最后确立生成不同类型气藏中气体的烃源岩埋藏深度,判别高热演化程度下不同母质来源的气藏来源,可有效指导洼陷带的油气勘探。
搜索关键词: 一种 来源 识别 方法
【主权项】:
1.一种气藏来源识别方法,其特征在于,采用以下步骤:/n(1)目标区气体地化资料的获取:气体地化资料包括气体的组分、气体的碳同位素、气体的氢同位素测定,气体的稀有同位素、不同母质烃源岩的成熟度;/n气体的组分测定包括:CH4、C2H6、C3H8、iC4H10、nC4H10、iC5H12、nC5H12;/n气体的碳同位素测定包括:CH4、C2H6、C3H8、iC4H10、nC4H10、iC5H12、nC5H12的碳位素数值;/n气体的氢同位素测定包括:CH4、C2H6、C3H8、iC4H10、nC4H10、iC5H12、nC5H12的氢位素数值;/n气体的稀有同位素测定包括:40Ar/36Ar的测定数值;/n不同母质烃源岩的成熟度测定包括:分别测试湖相暗色泥岩镜质体反射率Ro(y湖)及煤系烃源岩镜质体反射率Ro(y煤);/n(2)气藏聚类有效性参数的筛选:通过聚类分析方法,对步骤(1)中的各组分气体的碳同位素、氢同位素、稀有气体Ar40/Ar36同位素的数值及组分含量参数进行显著性分析,筛选出气藏聚类有效性参数;聚类分析前,先对上述参数进行极差正规化处理;/n(3)天然气类型的确定:利用步骤(2)的气藏聚类有效性参数,采用Bayes判别函数的方法,判定不同母质天然气的类型,煤成气、油型气及混合气的Bayes判别函数分别为Y1、Y2、Y3;/n(4)不同母质天然气类型气体的成熟度的确定,方法为:/n1)测定煤成气Y1、油型气Y2的甲烷碳同位素值;/n2)根据煤成气Y1、油型气Y2的甲烷碳同位素与热演化程度之间的关系,依照式1确定煤成气Y1的气体成熟度Ro(q煤);依照式2确定油型气Y2的气体成熟度Ro(q油):/nδ13C1(‰)≈cLn Ro(q煤)-d (式1)/nδ13C1(‰)≈aLg Ro(q油)-b (式2)/n式中,δ13C1(‰)为甲烷碳同位素,a、b、c、d为常数;/n(5)利用上述步骤(4)确定的天然气类型气体的成熟度和不同母质烃源岩的成熟度确定生成不同类型气藏中气体的烃源岩埋藏深度,方法为:/n1)依据泥岩镜质体反射率与地层深度之间的关系,建立式3所示的湖相暗色泥岩镜质体反射率Ro(y湖)随深度的变化关系及式4所示的煤系烃源岩镜质体反射率Ro(y煤)随深度的变化关系:/nRo(y湖)=exp[(H1-A)/B] (式3)/nRo(y煤)=exp[(H2-C)/D] (式4)/n式中,H1为湖相暗色泥岩埋藏深度,H2为煤系烃源岩埋藏深度,A、B、C、D均为常数;/n2)依据煤成气Y1的气体成熟度Ro(q煤)、油型气Y2的气体成熟度Ro(q油)与上述式3、式4所确定的煤系烃源岩镜质体反射率、湖相暗色泥岩镜质体反射率与地层深度之间的关系,按照同源气体,其烃源岩与气体成熟度一致的原理,由式5确定的煤成气Y1的气源深度,由式6确定所示的油型气Y2的气源深度:/nRo(q煤)=Ro(y煤)=exp[(H3-C)/D] (式5)/nRo(q油)=Ro(y湖)=exp[(H4-A)/B] (式6)/n式中,H3为煤成气气源的埋藏深度,H4为油型气气源的埋藏深度;/n3)依据煤成气Y1及油型气Y2的气源深度,由此确立不同成因的气藏来源深度。/n
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