[发明专利]一种用于芯片自动检测的框架在审
| 申请号： | 201510712504.0 | 申请日： | 2015-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN105241895A | 公开（公告）日： | 2016-01-13 |
| 发明（设计）人： | 李志远;耿世慧;李熙春 | 申请（专利权）人： | 重庆远创光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 尹丽云 |
| 地址： | 400039 重庆市高新区石桥铺石杨路17号*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于芯片自动检测的框架，应用于芯片检测领域，包括一矩形的架体，在架体上开设有两列相互平行的并与架体任一边平行或垂直的芯片安装工位，每列芯片安装工位包括多个芯片安装工位且每个芯片安装工位之间具有相等的间隔距离，且每列上的芯片安装工位数量相同。本发明可以实现芯片的自动化检测，相比人工检测的效率更高，而且可以避免由于人工长时间低头检测芯片导致头脑发晕、眼睛疲劳，进而容易造成质量事故的情况，还可以避免；工位员工调换频繁导致品质不能保证的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 自动检测 框架 | ||
【主权项】：
一种用于芯片自动检测的框架，其特征在于：包括一矩形的架体，在架体上开设有两列相互平行的并与架体任一边平行或垂直的芯片安装工位，每列芯片安装工位包括多个芯片安装工位且每个芯片安装工位之间具有相等的间隔距离，且每列上的芯片安装工位数量相同。
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