[发明专利]一种太赫兹双波段带阻式滤波器谐振单元及制造方法在审

专利信息
申请号: 201510713514.6 申请日: 2015-10-28
公开(公告)号: CN105322253A 公开(公告)日: 2016-02-10
发明(设计)人: 赵振宇;宋志强 申请(专利权)人: 上海师范大学
主分类号: H01P1/203 分类号: H01P1/203;H01P7/08;H01P11/00;B81C1/00
代理公司: 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 代理人: 陆林辉
地址: 200234 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种太赫兹双波段带阻式滤波器谐振单元,由半绝缘砷化镓(SI-GaAs)衬底和衬底上的金属层构成,半绝缘砷化镓(SI-GaAs)衬底的厚度为625μm,金属层由依次形成在衬底上的5nm厚的钛金属层和120nm厚的金属层构成,在金属层中形成有谐振结构阵列,所述谐振结构的几何结构由一对开口方向呈镜像对称分布的”凹”字形开口谐振环(SRR)和金属线谐振条(wire)组成;所述”凹”字形开口谐振环(SRR)以金属线谐振条(wire)所在直线为对称轴,所述”凹”字形开口谐振环(SRR)以开口方向呈镜像对称分布。还提供上述滤波器谐振单元的制造方法。通过本发明加工工艺制造的谐振单元,能够对1.01THz和1.38THz两个中心频率实现-25dB的抑制,获得双波段带阻式滤波器。
搜索关键词: 一种 赫兹 波段 带阻式 滤波器 谐振 单元 制造 方法
【主权项】:
一种太赫兹双波段带阻式滤波器谐振单元,由半绝缘砷化镓(SI‑GaAs)衬底和衬底上的金属层构成,其特征在于:半绝缘砷化镓(SI‑GaAs)衬底的厚度为625μm,金属层由依次形成在衬底上的5nm厚的钛金属层和120nm厚的金金属层构成,在金属层中形成有谐振结构阵列,所述谐振结构的几何结构由一对开口方向呈镜像对称分布的”凹”字形开口谐振环(SRR)和金属线谐振条(wire)组成;所述”凹”字形开口谐振环(SRR)以金属线谐振条(wire)所在直线为对称轴,所述”凹”字形开口谐振环(SRR)以开口方向呈镜像对称分布。
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