[发明专利]小径管外表面纵向缺陷的表面波检测方法在审
申请号: | 201510718060.1 | 申请日: | 2015-10-29 |
公开(公告)号: | CN105203635A | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
发明(设计)人: | 孟永乐;张红军;高磊;吕一楠;殷尊;侯召堂 | 申请(专利权)人: | 西安热工研究院有限公司 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710032 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种小径管外表面纵向缺陷的表面波检测方法,包括:1)清理待测小径管外表面,再涂覆耦合剂;2)将表面波探头置于待测小径管上;3)选取待测小径管的对比试块,再在待测小径管的对比试块表面刻槽;4)利用待测小径管的对比试块对超声波仪器进行水平线校准;5)调节超声波仪器的检测灵敏度;6)调整超声波仪器,使表面波探头发出的表面波的传播方向与待测小径管的母线相垂直,再将表面波探头在待测小径管的两侧面依次进行扫查;超声波仪器的显示屏上出现波幅高于B%满屏的反射波时,则待测小径管上的当前探测位置为深度大于Amm的表面纵向缺陷。本发明能够实现对小径管表面纵向缺陷的检测,并且对缺陷位置可以精确定位。 | ||
搜索关键词: | 小径 外表 纵向 缺陷 表面波 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种小径管外表面纵向缺陷的表面波检测方法,其特征在于,包括以下步骤:1)清理待测小径管外表面的铁锈和异物,将表面波探头在待测小径管上移动的区域上涂覆耦合剂;2)表面波探头中的晶片(2)位于透声楔(1)的斜边上,其中,透声楔(1)的底面为与待测小径管外表面相配合的圆柱形的凹面,将表面波探头置于待测小径管表面,使表面波探头中晶片(2)发出的纵波能够通过透声楔(1)转换成表面波入射到待测小径管表面;3)选取待测小径管的对比试块,再在待测小径管的对比试块表面刻槽,其中,槽的长度与待测小径管的对比试块的长度一致,槽的宽度及深度均为Amm;4)利用待测小径管的对比试块对超声波仪器进行水平线校准;5)将表面波探头置于与槽的距离为待测小径管对比块半周长的位置,再调节超声波仪器的增益,使经槽的最大反射波的波幅为B%满屏,则当前超声波仪器的增益为超声波的检测灵敏度;6)调整超声波仪器,使表面波探头发出的表面波的传播方向与待测小径管的母线相垂直,再将表面波探头在待测小径管的两侧面依次进行扫查,其中,在扫查过程中,表面波探头沿待测小径管的轴向移动并转动角度3~5°;超声波仪器的显示屏上出现波幅高于B%满屏的反射波时,则待测小径管上的当前探测位置为深度大于Amm的表面纵向缺陷。
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