[发明专利]MRI设备的安全监控装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510718247.1 申请日: 2015-10-29
公开(公告)号: CN105411588A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 封勇福;谢强;钱江;肖绍旻 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: A61B5/055 分类号: A61B5/055;A61B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201807 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种MRI设备的安全监控装置,包括:RF信号输入模块,采集并输入RF信号;SAR值监控模块,接收所述RF信号,计算SAR值;梯度信号输入模块,采集并输入梯度信号;PNS刺激监控模块,接收所述梯度信号,计算PNS刺激值;系统管理模块,当所述SAR值监控模块和PNS刺激监控模块的计算结果超出阈值时发出警报信号至上位机;其中,所述SAR值监控模块,包括:第一SAR滑动平均值计算子单元,用于计算第一SAR滑动平均值;第二SAR滑动平均值计算子单元,用于计算第二SAR滑动平均值,所述第一SAR滑动平均值对应的采样时间长于所述第二SAR滑动平均值对应的采样时间。
搜索关键词: mri 设备 安全 监控 装置 方法
【主权项】:
一种MRI设备的安全监控装置,包括:RF信号输入模块,采集并输入RF信号;SAR值监控模块,接收所述RF信号,计算SAR值;梯度信号输入模块,采集并输入梯度信号;PNS刺激监控模块,接收所述梯度信号,计算PNS刺激值;系统管理模块,当所述SAR值监控模块和PNS刺激监控模块的计算结果超出阈值时发出警报信号至上位机;其中,所述SAR值监控模块,包括:第一SAR滑动平均值计算子单元,用于计算第一SAR滑动平均值;第二SAR滑动平均值计算子单元,用于计算第二SAR滑动平均值,所述第一SAR滑动平均值对应的采样时间长于所述第二SAR滑动平均值对应的采样时间。
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