[发明专利]安装结构体和BGA球有效

专利信息
申请号: 201510725892.6 申请日: 2015-10-29
公开(公告)号: CN105682374B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 日根清裕;古泽彰男;森将人;中村太一;北浦秀敏 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H05K3/34 分类号: H05K3/34
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 蒋亭
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的安装结构体具备:具有BGA电极的BGA;具有电路基板电极的电路基板;配置在电路基板电极上、与BGA电极连接的钎焊接合部。钎焊接合部包含:含有率为0.6质量%以上且1.2质量%以下的Cu;含有率为3.0质量%以上且4.0质量%以下的Ag;含有率为0质量%以上且1.0质量%以下的Bi;In;Sn。In的含有率的范围根据Cu的含有率而有所不同。
搜索关键词: 安装 结构 bga
【主权项】:
1.一种安装结构体,其具备:具有BGA电极的BGA;具有电路基板电极的电路基板;配置在所述电路基板电极上、与所述BGA电极连接的钎焊接合部,所述钎焊接合部包含:含有率为0.6质量%以上且1.2质量%以下的Cu、含有率为3.0质量%以上且4.0质量%以下的Ag、含有率大于0质量%并在1.0质量%以下的Bi、In以及Sn,其中,(1)Cu的含有率为0.6质量%以上且0.91质量%以下的范围时,In的含有率为5.3+(6‑(1.55×Cu的含有率+4.428))质量%以上且6.8+(6‑(1.57×Cu的含有率+4.564))质量%以下,(2)Cu的含有率大于0.91质量%并在1.0质量%以下的范围时,In的含有率为5.3+(6‑(1.55×Cu的含有率+4.428))质量%以上且6.8质量%以下,(3)Cu的含有率大于1.0质量%并在1.2质量%以下的范围时,In的含有率为5.3质量%以上且6.8质量%以下。
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