[发明专利]存储器错误检测方法及装置在审

专利信息
申请号: 201510729616.7 申请日: 2015-10-30
公开(公告)号: CN105304144A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 叶甜春 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 北京蓝智辉煌知识产权代理事务所(普通合伙) 11345 代理人: 陈红
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种存储器错误检测装置,在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器,错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测。依照本发明的存储器错误检测方法及装置,在页缓冲器和IO缓冲器之间插入错误检测单元,在存储器进行编程和擦除操作之后实现内部错误检测操作,获取错误存储单元信息,简易快速并低成本实现了错误检测。
搜索关键词: 存储器 错误 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种存储器错误检测装置,在同一个芯片上包括控制装置、存储器单元阵列、页缓冲器、错误检测单元以及IO缓冲器,错误检测单元位于页缓冲器与IO缓冲器之间用于在控制装置的控制下对存储器单元阵列中的错误进行检测,其中错误检测单元包括组合逻辑运算模块、加法器、累加器、触发器、比较器、选择器,寄存器包括错误码计数寄存器、错误位计数寄存器、故障阈值寄存器、通过/故障状态寄存器、通过/故障标记寄存器、包含错误位地址的其他错误信息寄存器;以及其中,页缓冲器中的数据与IO缓冲器输入的参考数据通过异或门存入错误码计数寄存器,错误码计数寄存器与复位信号输入累加器与触发器构成反馈回路,反馈回路的输出一路连接至比较器、在比较器处与来自故障阈值寄存器的阈值作比较,比较的结果经过选择器选择之后存入通过/故障状态寄存器,反馈回路的输出另一路连接至错误位计数寄存器阵列。
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