[发明专利]基于SPI总线的测量控制系统在审

专利信息
申请号: 201510733629.1 申请日: 2015-11-01
公开(公告)号: CN105388805A 公开(公告)日: 2016-03-09
发明(设计)人: 黎右翼 申请(专利权)人: 四川泛华航空仪表电器有限公司
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610500 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开的基于SPI总线的测量控制系统,旨在提供一种电路简单、兼容性强、通用性好、可扩展性强、软件复用性好的测量控制系统。本发明通过下述技术方案予以实现:数据处理模块电连接片选信号模块,片选信号模块输出端并联接A/D采样模块、数据存取模块和开关量识别模块,A/D采样模块、数据存取模块和开关量识别模块,通过数据处理模块,并联输出端连接数据处理模块,数据处理模块向选中模块发送控制命令实现两者之间的数据传输,进而实现A/D采样、数据存取以及开关量识别功能;数据存取模块数据处理模块将测量控制系统状态、实时重要参数通过SPI总线写入到数据存取模块中;A/D采样模块将转换结果通过SPI总线回送到数据处理模块进行处理。
搜索关键词: 基于 spi 总线 测量 控制系统
【主权项】:
一种基于SPI总线的测量控制系统,包括电源模块、含有微处理器的数据处理模块、具有可扩展SPI接口器件个数的片选信号模块、A/D采样模块、数据存取模块和开关量识别模块,其特征在于:数据处理模块电连接片选信号模块,片选信号模块输出端并联接A/D采样模块、数据存取模块和开关量识别模块,A/D采样模块、数据存取模块和开关量识别模块通过数据处理模块,并联输出端连接数据处理模块,数据处理模块通过SPI总线,对同一时刻只能有一个片选信号有效来控制片选信号模块产生片选信号,向选中模块发送控制命令实现两者之间的数据传输,进而实现A/D采样、数据存取以及开关量识别功能;数据存取模块数据处理模块将测量控制系统状态、实时重要参数通过SPI总线写入到数据存取模块中,将数据读出用于分析;数据处理模块通过SPI总线向A/D转换器发送模拟量到数字量转换的控制命令,A/D采样模块将采样选信号模拟量转换为数字量,并将转换结果通过SPI总线回送到数据处理模块进行处理;开关量识别模块通过微控制器的引脚输出转换时序,从SPI总线读取微控制器串行输入/输出移位寄存器输出的串行数据,通过SPI总线读取微控制器串行输入/输出移位寄存器输出的串行数据,得到外部信号的输入状态,最后通过SPI总线读取12位数据并对其进行处理。
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