[发明专利]一种测试光插入损耗和光回波损耗的动态修正装置及方法在审
| 申请号： | 201510742545.4 | 申请日： | 2015-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN105444990A | 公开（公告）日： | 2016-03-30 |
| 发明（设计）人： | 孙强;闫继送;王东升;韩强;张平 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 张勇 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光插入损耗和光回波损耗的动态修正装置及方法，包括激光器组、2×1光波分复用器、1×2光耦合器、2×1光耦合器、光电探测器组和功率检测模块；激光器组的任一激光器的输出端均经2×1光波分复用器耦合到1×2光耦合器输入端；1×2光耦合器的A分支与第二光电探测器连接，B分支与2×1光耦合器的C分支连接，2×1光耦合器的D分支与第一光电探测器连接，E分支连接到该装置的光纤输出端口，功率检测模块输入端口为该装置的光纤输入端口；所述1×2光耦合器的分光比为小于等于10：90，2×1光耦合器的分光比为50：50。本发明的有益效果是：尽可能去除激光器因工作时间延长和环境温湿度变化带来的误差，光插入损耗和光回波损耗修正值更接近光插入损耗和光回波损耗真实值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 插入损耗 回波 损耗 动态 修正 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测试光插入损耗和光回波损耗的动态修正装置，其特征是，包括激光器组、2×1光波分复用器、1×2光耦合器、2×1光耦合器、光电探测器组和功率检测模块；其中，光电探测器组包括第一光电探测器和第二光电探测器；激光器组的任一激光器的输出端均经2×1光波分复用器耦合到1×2光耦合器输入端；1×2光耦合器的A分支与第二光电探测器连接，B分支与2×1光耦合器的C分支连接，2×1光耦合器的D分支与第一光电探测器连接，E分支连接到该装置的光纤输出端口，功率检测模块输入端口为该装置的光纤输入端口；所述1×2光耦合器的分光比为小于等于10：90，2×1光耦合器的分光比为50：50。
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