[发明专利]密码芯片的故障注入方法及装置

摘要

本发明提供了一种密码芯片的故障注入方法及装置，涉及密码芯片技术领域，方法包括从故障注入相关参数集合中随机选取多个故障注入相关参数粒子；根据各D维向量中的D个故障注入相关参数，对密码芯片进行故障注入；将各D维向量中的每一维故障注入相关参数以一速度参数进行更新；更新后，再次对密码芯片进行故障注入；并监测根据各D维向量对密码芯片进行故障注入所发生有效错误输出的频率；反复执行，直至当各D维向量中的第一D维向量所对应的频率大于等于一预设阈值时，将第一D维向量中的D个故障注入相关参数确定为优选故障注入相关参数。本发明避免了从参数集合中穷举出所需参数，效率低下且造成密码芯片检测缓慢的问题。

主权项

1.一种密码芯片的故障注入方法，其特征在于，包括：步骤101、从故障注入相关参数集合中随机选取多个故障注入相关参数粒子；各所述故障注入相关参数粒子中具有D个故障注入相关参数，每个所述故障注入相关参数粒子中的D个故障注入相关参数构成D维向量；步骤102、根据各所述D维向量中的D个故障注入相关参数，对密码芯片进行故障注入；步骤103、将各所述D维向量中的每一维故障注入相关参数以一速度参数进行更新，生成更新后的D维向量；步骤104、根据各更新后的D维向量中的D个故障注入相关参数，对密码芯片进行故障注入；步骤105、监测根据各D维向量中的D个故障注入相关参数对密码芯片进行故障注入所发生有效错误输出的频率；反复执行步骤103至步骤105；步骤106、当各D维向量中的一第一D维向量所对应的频率大于等于一预设阈值时，停止对密码芯片进行故障注入，并将所述第一D维向量中的D个故障注入相关参数确定为优选故障注入相关参数；步骤107、根据所述优选故障注入相关参数对密码芯片进行故障注入，获取错误输出结果；所述D维向量为：Xi(t)＝(xi1,xi2,…,xiD)其中，i表示D维向量所对应的故障注入相关参数粒子；t表示所述D维向量的时刻；所述将各所述D维向量中的每一维故障注入相关参数以一速度参数进行更新，生成更新后的D维向量，包括：根据公式：xij(t+1)＝xij(t)+vij(t+1)将D维向量中的故障注入相关参数xij(t)更新为xij(t+1)；其中，vij(t+1)为t时刻时的速度参数，j≤D；所述速度参数为：vij(t+1)＝w×vij(t)+c1×rand()×[pij(t)‑xij(t)]+c2×rand()×[pgj(t)‑xij(t)]其中，w为惯性权重常数；vij(t)为t‑1时刻时的速度参数；c1和c2为正的常数；rand()为在[0，1]区间的随机数；pij(t)为故障注入相关参数粒子i对应的各时刻的第一历史最优位置，所述第一历史最优位置pij(t)＝(pi1,pi2,…,piD)，所述第一历史最优位置是各时刻发生有效错误输出的频率最大时的D维向量；pgj(t)为全部故障注入相关参数粒子g对应的各时刻的第二历史最优位置，所述第二历史最优位置pgj(t)＝(pg1,pg2,…,pgD)，所述第二历史最优位置是各故障注入相关参数粒子在各时刻发生有效错误输出的频率最大时的D维向量；所述速度参数的初始值为vij(1)，所述vij(1)为预先设置的。