[发明专利]一种电路板检测方法在审
| 申请号： | 201510749867.1 | 申请日： | 2015-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN105301477A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 马天悦;赵希雷;李传刚;刘永姣;林少明;肖虎 | 申请（专利权）人： | 深圳市亚泰光电技术有限公司;深圳市纳晶微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 | 代理人： | 何婷;田利琼 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区黄阁北*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子检测领域，尤其涉及一种电路板检测方法，本发明提供的电路板检测方法，包括以下步骤：通过探针治具获取至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号；对所述至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号进行检测，并输出与所述至少一个待检测信号对应的至少一个检测结果；对所述检测结果进行分析，判断所述至少一个待检测电路板是否合格，并输出分析结果。本发明提供的电路板检测方法是一种多通道全参数同时检测的方法，通过多路检测线路并行检测多块电路板，解决了传统电路板质量检测方法耗时长、效率低下的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路板 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种电路板检测方法，其特征在于，包括以下步骤：通过探针治具获取至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号；对所述至少一个待检测电路板的至少一个待检测信号进行检测，并输出与所述至少一个待检测信号对应的至少一个检测结果；对所述检测结果进行分析，判断所述至少一个待检测电路板是否合格，并输出分析结果。
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