[发明专利]一种具有散热功能的测试治具及散热方法在审
| 申请号： | 201510751002.9 | 申请日： | 2015-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN105307458A | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 苗国聚;刘安顺;冯国栋 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H05K7/20 | 分类号： | H05K7/20;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种具有散热功能的测试治具，其包括：底座，以及设置在底座上的待测元件托盘、待测元件压块、测试手柄；其中，所述待测元件托盘内部设置有气流通道，所述气流通道设有气流入口和气流出口；且所述气流通道设置的位置为：当待测元件置于所述待测元件托盘上时，所述气流通道位于所述待测元件的下方。通过本发明能够将电子元件在测试过程中产生的热量更快地散去。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 具有 散热 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种具有散热功能的测试治具，包括：底座，以及设置在底座上的待测元件托盘、待测元件压块、测试手柄；其特征在于：所述待测元件托盘内部设置有气流通道，所述气流通道设有气流入口和气流出口；且所述气流通道设置的位置为：当待测元件置于所述待测元件托盘上时，所述气流通道位于所述待测元件的下方。
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