[发明专利]一种氡析出率的测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201510751201.X 申请日: 2015-11-06
公开(公告)号: CN105425267A 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 肖德涛;李志强;赵桂芝 申请(专利权)人: 南华大学
主分类号: G01T1/167 分类号: G01T1/167;G01T1/24
代理公司: 长沙市融智专利事务所 43114 代理人: 黄美成
地址: 421001 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种氡析出率的测量系统及方法,该测量系统无需干燥管干燥取样气体,减少干燥剂对集氡罩内介质表面氡析出率的影响;在自然环境下,该测量仪能够准确测量瞬时氡浓度,无需要对测量的氡浓度进行数据修正后才能进行计算;测量仪能够将测量的氡浓度自动计算出氡析出率,无需借助PC机来进行线性拟合处理后才能获得氡析出率的值。实验表明,该氡析出率测量仪在氡析出率标准装置上的测量误在5%以内。测量完毕直接得出氡析出率方便了现场氡析率测量的需求。该氡析出率的测量系统及方法易于实施,测量效率高。
搜索关键词: 一种 析出 测量 系统 方法
【主权项】:
一种氡析出率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:以T为测量周期,测得第一个测量周期后的氡浓度C1以及第i个测量周期后的氡浓度Ci,i≥2;步骤2:按下式计算第i个测量周期后的氡析出率:<mrow><mi>J</mi><mo>=</mo><mo>-</mo><mfrac><mrow><mfrac><mrow><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mn>2</mn></msup><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mi>n</mi><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup></mrow></mfrac><mi>ln</mi><mfrac><mrow><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mi>n</mi><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup></mrow></mfrac></mrow><mrow><mn>1</mn><mo>-</mo><mfrac><mrow><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mrow><mrow><mi>n</mi><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mn>2</mn></msup><mo>-</mo><msup><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></msubsup><msub><mi>C</mi><mrow><mi>i</mi><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msub><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup></mrow></mfrac></mrow></mfrac><mfrac><mi>V</mi><mrow><mi>T</mi><mi>S</mi></mrow></mfrac></mrow>V为集氡罩和测量系统测量装置的测量室及连接管的总体积;S为集氡罩的底面积;n为测量次数。
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