[发明专利]用于监测动态密封件的封闭介质回路的方法和具有动态密封件的装置有效
申请号: | 201510752480.1 | 申请日: | 2015-11-06 |
公开(公告)号: | CN106040375B | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | L-P·韦兰;R·鲍尔;M·尼希特莱恩 | 申请(专利权)人: | 耐驰精细研磨技术有限公司 |
主分类号: | B02C17/18 | 分类号: | B02C17/18;B02C17/10 |
代理公司: | 北京市路盛律师事务所11326 | 代理人: | 刘世杰,王桂玲 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于监测装置的动态密封件的在封闭介质回路中的封闭介质的物理参数的方法。在此,获取封闭介质的至少一个物理的实际参数,并且将其与至少一个定义的额定参数相比较。如果在此获取到在实际参数和额定参数之间的偏差,则使用该偏差以说明动态密封件的工作状态。此外,本发明涉及一种装置,其具有至少一个旋转的轴,该轴利用动态密封件相对于固定的机器部件密封。 | ||
搜索关键词: | 用于 监测 动态 密封件 封闭 介质 回路 方法 具有 装置 | ||
【主权项】:
一种用于监测搅拌式球磨机的动态密封件(2)的在封闭介质回路(13)中的封闭介质的物理参数的方法,该搅拌式球磨机具有至少一个可运动地支承的轴(11),其中,获取所述封闭介质的至少一个物理的实际参数,其中,将该至少一个实际参数与至少一个定义的额定参数相比较;其中,使用在所述实际参数和所述额定参数之间的偏差以说明所述动态密封件(2)的工作状态,获取并记录在所述封闭介质回路(13)中的封闭介质的体积变化,其特征在于,由所获取的体积减少计算在所述搅拌式球磨机(1)中处理的产品由于封闭介质导致的污染度。
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