[发明专利]回旋校验方法及装置在审
| 申请号： | 201510753037.6 | 申请日： | 2015-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN106685635A | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 单伟君;刘丹;郭丽敏;李清;张纲;俞军;刘枫 | 申请（专利权）人： | 上海复旦微电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L9/00 | 分类号： | H04L9/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 张凤伟;吴敏 |
| 地址： | 200433 上海市杨浦区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种回旋校验的方法及装置。所述方法包括：获取密码模块对输入数据进行第i轮加密运算后的结果以及第j轮加密运算后的结果；对所述第j轮加密运算后的结果进行k轮的解密运算，直至获得第i轮解密运算后的结果，其中，k＝j-i；将所述第i轮加密运算后的结果与所述第i轮解密运算后的结果进行比较，并根据比较结果判断所述密码模块是否受到干扰或攻击。应用所述方法可以缩短对加密或解密后的数据进行回旋校验的时间，提高密码算法的运行效率。 | ||
| 搜索关键词： | 回旋 校验 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种回旋校验方法，其特征在于，包括：获取密码模块对输入数据进行第i轮加密运算后的结果以及第j轮加密运算后的结果，其中，1≤i＜j≤N，N为对所述输入数据进行加密运算的总轮次，i、j及N均为正整数；对所述第j轮加密运算后的结果进行k轮的解密运算，直至获得第i轮解密运算后的结果，其中，k＝j‑i；将所述第i轮加密运算后的结果与所述第i轮解密运算后的结果进行比较，并根据比较结果判断所述密码模块是否受到干扰或攻击。
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