[发明专利]自校准光轴平行性检测仪及检测方法在审
| 申请号： | 201510755167.3 | 申请日： | 2015-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN105424322A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 叶露 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 李青 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 自校准光轴平行性检测仪及检测方法属于光学仪器检验技术领域，本发明采用的标校反射镜是一块长方形平尺反射镜，代替现有较短的反射镜或椎体棱镜，可同时覆盖半反半透平面镜和平面折转反射镜出射的光束，从而使得两路光束以同一基准进行校准，达到高精度的目的。本发明所研制的光轴平行度检验仪，光束间距可在200mm至900mm范围内连续可调，光束的平行性可实时调整，平行性精度取决于自准直仪的测量精度，而自准直仪的测量精度可溯源到国家计量院，该仪器实现了便携、多功能及高精度的使用要求。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 光轴 平行 检测 方法 | ||
【主权项】：
自校准光轴平行性检测仪，其特征在于，该检测仪包括：主支撑导轨、平尺反射镜、移动导轨、平面折转反射镜、半反半透平面镜和自准直仪；所述半反半透平面镜和平面折转反射镜安装在主支撑导轨上表面，可在主支撑导轨上任意滑动，与主支撑导轨的主轴成45度角；所述移动导轨固定安装在主支撑导轨的一侧表面，平尺反射镜通过移动导轨在主支撑导轨侧表面任意滑动；自准直仪安装在主支撑导轨的另一侧表面，自校准时对准半反半透平面镜。
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