[发明专利]一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法有效

专利信息
申请号: 201510755977.9 申请日: 2015-11-09
公开(公告)号: CN105466409B 公开(公告)日: 2017-03-15
发明(设计)人: 宋凝芳;高福宇;张祖琛;金靖;张春熹;宋镜明 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01C19/72 分类号: G01C19/72;G01C25/00
代理公司: 北京永创新实专利事务所11121 代理人: 姜荣丽
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法及装置,属于光纤应用技术领域。所述测量方法是指光源输出光经过耦合器,在Y波导中分为两路,其中上路光在熔点A处反射,下路光在熔点B处反射,两路反射光经过Y波导,最终经过耦合器,利用光谱仪测量输出光谱,导出光谱仪测得光谱数据,然后对测量得到的光谱数据做快速傅里叶变换得到反射次波的光程差。所述的测量装置是指采用光谱仪接收耦合器的反射光,并计算反射次波的光程差。本发明通过精确测量反射次波间的光程差,从而指导控制反射次波光程差,消除了光子带隙光纤陀螺中由反射次波引起的偏置误差。
搜索关键词: 一种 光子 光纤 陀螺 反射 波光 测量方法
【主权项】:
一种光子带隙光纤陀螺中反射次波光程差的测量方法,其特征在于:步骤一、记录并导出光谱仪所测的输出光谱数据;光源输出光经过耦合器,在Y波导中分为两路,其中上路光在熔点A处反射,下路光在熔点B处反射,两路反射光经过Y波导,最终经过耦合器,利用光谱仪测量输出光谱,导出光谱仪测得光谱数据;步骤二、对测量得到的光谱数据做快速傅里叶变换得到反射次波的光程差;设波长为λ的光反射到光谱仪时存在稳定的相位差则返回光强I为:其中,Iλ=Iλ正+Iλ反+I1λ+I2λIλ,=2I1λI2λ]]>Iλ正与Iλ反为光源输出的波长λ的光沿光路正向和反向经过,到达光谱仪的光强,I1λ与I2λ为光源输出的波长λ的光经两个反射点反射后,到达光谱仪的光强,L为次波反射点距离,nλ为波长为λ的光在传输介质中的折射率;叠加信号的两相邻周期需满足:2πλ1n·(2L)-2πλ2n·(2L)=2π]]>其中λ1与λ2为光源输出光谱两端,即光源输出光的最短波长与最长波长,整理得到,L=λm22·n·Δλ]]>其中λm为中心波长,因此将快速傅里叶变换所得到的曲线横坐标乘以对纵坐标取对数处理,在L处存在次波反射点,所以得到反射次波光程差为n×L。
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