[发明专利]一次性可编程存储装置以及对其进行数据校验的方法有效

专利信息
申请号: 201510759862.7 申请日: 2015-11-10
公开(公告)号: CN106681855B 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 莫国兵;许树娜;陈正泰 申请(专利权)人: 澜起科技股份有限公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京市君合律师事务所 11517 代理人: 王昭林;毕长生
地址: 200233 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一次性可编程存储装置包括存储阵列。存储阵列包括:数据存储区,用于存储应用数据;校验信息区,包括校验信息单元,每个校验信息单元包括:校验地址区域,用于存储校验地址信息,校验地址信息关联于数据存储区中待校验区域的地址;以及参考校验数据区域,用于存储参考校验数据,每个参考校验数据是基于一校验算法对待校验区域中存储的应用数据进行参考校验计算所得到的;校验处理器,用于根据校验地址信息从待校验区域读取应用数据,并且根据一选定的校验算法对应用数据进行自校验计算,以得到自校验结果;以及控制器,耦接到存储阵列和校验处理器,用于从校验处理器接收自校验结果,选择参考校验数据与自校验结果进行比较,并输出比较结果。
搜索关键词: 一次性 可编程 存储 装置 以及 进行 数据 校验 方法
【主权项】:
1.一种一次性可编程存储装置,其特征在于,包括:存储阵列,所述存储阵列包括:数据存储区,用于存储应用数据;校验信息区,其包括至少一个校验信息单元,其中每个校验信息单元包括:校验地址区域,其用于存储校验地址信息,所述校验地址信息关联于所述数据存储区中待校验区域的地址;以及参考校验数据区域,其用于存储一个或多个参考校验数据,其中每个参考校验数据是基于一校验算法对所述待校验区域中存储的应用数据进行参考校验计算所得到的;校验处理器,用于根据所述校验地址信息从所述待校验区域读取应用数据,并且根据一选定的校验算法对所述应用数据进行自校验计算,以得到自校验结果;以及控制器,其耦接到所述存储阵列和所述校验处理器,用于从所述校验处理器接收所述自校验结果,选择参考校验数据来与所述自校验结果进行比较,并且输出所述比较结果。
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