[发明专利]微型成像式红外温度场测量系统有效
| 申请号： | 201510760903.4 | 申请日： | 2015-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN106679826B | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 邱超;孙红胜;张玉国;杜继东 | 申请（专利权）人： | 北京振兴计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01J5/20 | 分类号： | G01J5/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100074 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微型成像式红外温度场测量系统，包括：红外成像模块，用于收集被测目标的红外辐射；N个辐射匀化单元，用于将所述红外辐射进行匀化处理，其中N为大于等于2的整数；与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元，每个单波长滤光单元包括M个滤光片，用于分别获取不同波长的红外辐射，其中M为波长数量；红外探测器，用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号；将多波长辐射测温理论应用到微型成像式红外温度场测量系统，解决了目前微型成像式红外温度场测量系统抗干扰能力低、测量精度差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 微型 成像 红外 温度场 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种微型成像式红外温度场测量系统，其特征在于，包括：红外成像模块，用于收集被测目标的红外辐射；N个辐射匀化单元，用于将所述红外辐射进行匀化处理，其中N为大于等于2的整数；与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元，每个单波长滤光单元包括M个滤光片，用于分别获取不同波长的红外辐射，其中M为波长数量；红外探测器，用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号。
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