[发明专利]中子束过滤器过滤性能测量装置及方法

摘要

本发明涉及中子束过滤器过滤性能测量装置及方法。本发明的一种方案中，所述测量装置包括反应堆，中子传输孔道，中子单色器，飞行时间装置，中子束过滤器。另一种方案中，进一步包括偏转单色器，旋转台。飞行时间方法非常适用于中子能量/波长分布的测量与分析，通过飞行时间谱测量可同时获得并区分初级中子λ及高次谐波中子λ/2、λ/3……λ/n的积分强度，非常快速和直观，并极大地减小了测量误差，尤其是出射束方向飞行时间法测量误差可以忽略。

主权项

1.一种中子束过滤器过滤性能测量装置，其特征在于：所述测量装置包括反应堆，中子传输孔道，中子单色器，飞行时间装置，偏转单色器，旋转台，待测中子束过滤器；所述中子传输孔道的一端安装在反应堆出口，所述中子传输孔道的另一端放置中子单色器；偏转单色器的平板垂直放置固定于旋转台的中心，并一起置于中子单色器的出射束方向，旋转台的旋转中心位于所述出射束的中心线上；所述飞行时间装置位于正对偏转单色器的偏转束位置；待测中子束过滤器位于中子单色器与偏转单色器之间并垂直所述出射束；偏转单色器的材质与中子单色器相同，厚度大于或等于中子单色器；偏转单色器的偏转晶面与中子单色器的反射晶面的米勒指数(hkl)相同；偏转单色器的嵌镶分布半高宽为β′，中子单色器的嵌镶分布半高宽为β，β′≥3β；使用X射线衍射仪测量偏转单色器的摇动曲线，获得所述嵌镶分布半高宽β′。