[发明专利]芯片调试系统及方法与系统芯片有效

专利信息
申请号: 201510765184.5 申请日: 2015-11-11
公开(公告)号: CN106681877B 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 温浪明;温海华 申请(专利权)人: 扬智科技股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 31100 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 胡林岭
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种可保留调试信息的芯片调试系统,芯片调试系统包括调试器以及系统芯片。系统芯片包括调试接口模块、重置模块、程序记录与选择模块以及处理器。调试接口模块连接调试器以接收控制命令,依据控制命令而产生控制信号与重置信号。重置模块耦接调试接口模块,响应于接收重置信号而产生系统重置信号。程序记录与选择模块耦接调试接口模块,以接收控制信号并根据控制信号调整其工作状态。处理器耦接重置模块,响应于接收到系统重置信号而进行系统重启,以依据程序记录与选择模块的工作状态而运行无穷循环程序或正常启动程序。
搜索关键词: 芯片 调试 系统 方法
【主权项】:
1.一种可保留调试信息的芯片调试系统,其特征在于,所述芯片调试系统包括:/n一调试器,发出一控制命令;以及/n一系统芯片,包括:/n一调试接口模块,连接该调试器以接收该控制命令,依据该控制命令产生一控制信号与一重置信号;/n一重置模块,耦接该调试接口模块,响应于接收该重置信号而产生一系统重置信号;/n一程序记录与选择模块,耦接该调试接口模块,以接收该控制信号并根据该控制信号调整其工作状态;以及/n一处理器,耦接该重置模块,响应于接收到该系统重置信号而进行系统重启(reboot),以依据该程序记录与选择模块的工作状态而运行一无穷循环程序或一正常启动程序。/n
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