[发明专利]一种借助低温密闭熔融技术测定二氧化硅含量的方法

摘要

本发明公开了一种借助低温密闭熔融技术测定硅酸盐中二氧化硅含量的方法，包括：称取0.0500～0.2500g硅酸盐样品于高效防腐熔样罐内胆中；再加入碱性熔剂，置于熔样罐内，密闭，放入烘箱内；恒温加热密闭熔融5～24小时，充分冷却，取出罐体，打开内胆，用酸复溶调节溶液酸碱度，确保二氧化硅全部溶解至澄清透明溶液，用ICP-OES方法测定二氧化硅含量。本发明在低温条件下，使硅酸盐中的二氧化硅实现低温密闭熔融，经酸复溶消解样品，利用ICP-OES方法快速测定二氧化硅的含量。本发明提供了一种低温密闭、安全稳定、高效环保、成本低廉的二氧化硅熔融方法，可促进硅酸盐中二氧化硅分析测试技术水平的改进与提高。

主权项

一种借助低温密闭熔融技术测定硅酸盐中二氧化硅含量的方法，其特征在于，所述低温密闭熔融技术测定二氧化硅含量的方法低温密闭熔融样品，酸复溶至样品成溶液，使用ICP‑OES方法测定二氧化硅含量。