[发明专利]发生酸敏的门限温度的获取方法

摘要

本发明提供了一种发生酸敏的门限温度的获取方法，包括：在预设实验温度范围内选取n个实验温度点T_i；根据各T_i、待测岩样所在地区的平均地表温度T₀及地温梯度Δt，计算各T_i对应的地层埋深H_i；获取各T_i对应的地层埋深H_i下的实测地层压力P_i；将待测岩样放入高温高压实验装置的反应釜中，通入有机酸溶液，使有机酸溶液在各T_i及P_i条件下与待测岩样反应一预设时间，获取各实验条件下的实验生成物溶液；对各实验条件下的实验生成物溶液进行电感耦合等离子体发射光谱分析，获取各实验生成物溶液中的Si⁴⁺浓度；绘制出Si⁴⁺浓度随温度变化的曲线，判断相邻实验温度点T_i+1与T_i的Si⁴⁺浓度的比值，并以该比值第一次超过预设值的实验温度点T_i作为发生酸敏的门限温度。

主权项

一种发生酸敏的门限温度的获取方法，其特征在于，所述发生酸敏的门限温度的获取方法包括：在预设实验温度范围内选取n个实验温度点T_i，其中i为1，2…，n；根据各实验温度点T_i、待测岩样所在地区的平均地表温度T₀及地温梯度Δt，计算各实验温度点对应的地层埋深H_i：H_i＝(T_i－T₀)/Δt×100；获取各所述实验温度点T_i对应的地层埋深H_i下的实测地层压力P_i；将所述待测岩样放入高温高压实验装置的反应釜中，向高温高压实验装置通入有机酸溶液，使所述有机酸溶液在各所述实验温度点T_i及实测地层压力P_i条件下与所述待测岩样反应一预设时间，并获取各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下的实验生成物溶液；分别对各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下的实验生成物溶液进行电感耦合等离子体发射光谱分析，获取各所述实验温度点T_i及其对应实测地层压力P_i条件下实验生成物溶液中的Si⁴⁺浓度；根据各个实验温度点的Si⁴⁺浓度绘制出离子浓度随温度变化的曲线，按照实验温度点从小到大的顺序，在所述曲线上判断相邻实验温度点T_i+1与T_i的Si⁴⁺浓度的比值，并以所述比值第一次超过预设值的实验温度点T_i作为发生酸敏的门限温度。