[发明专利]一种用于原子测量的半导体激光光源在审

专利信息
申请号: 201510770519.2 申请日: 2015-11-12
公开(公告)号: CN106711755A 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 郑辛;刘建丰;秦杰;汪世林;万双爱;郭宇豪 申请(专利权)人: 北京自动化控制设备研究所
主分类号: H01S5/024 分类号: H01S5/024;H01S5/062
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 刘昕宇
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于光源,具体涉及一种用于原子测量的半导体激光光源。一种用于原子测量的半导体激光光源,包括激光器组件、驱动控制模块和光学组件,其中驱动控制模块驱动激光器组件产生激光,产生的激光通过光学组件的调整形成光源。本发明的效果是在半导体激光器前端采取温度闭环控制和电流闭环控制,取代后端的光学设计和光电探测,在确保激光频率稳定性的同时,减小光源的体积,降低光源的复杂程度,提高光源的环境适应能力。
搜索关键词: 一种 用于 原子 测量 半导体 激光 光源
【主权项】:
一种用于原子测量的半导体激光光源,其特征在于:包括激光器组件、驱动控制模块和光学组件,其中驱动控制模块驱动激光器组件产生激光,产生的激光通过光学组件的调整形成光源。
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