[发明专利]一种背照式传感器及其制作工艺有效
申请号: | 201510771916.1 | 申请日: | 2015-11-12 |
公开(公告)号: | CN105448943B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 胡胜 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及半导体制备工艺技术领域,尤其涉及一种背照式传感器制作工艺,通过提供一内部制备有若干光电二极管的硅衬底;依次于所述硅衬底之上制备高K介电材料层、缓冲层和介质层;刻蚀所述介质层至所述缓冲层的上表面,于所述介质层上形成若干开口;于所述开口中填充氧化材料层,形成介质层中镶嵌有氧化材料层的背照式传感器,本技术方案公开的背照式传感器的制备工艺,制程简单,能够用于不同的背照式工艺的要求,提高了量子效率,从而提高了芯片的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 背照式 传感器 及其 制作 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种背照式传感器制作工艺,其特征在于,所述制作工艺包括:提供一内部制备有若干光电二极管的硅衬底;依次于所述硅衬底之上制备高K介电材料层、缓冲层和介质层;刻蚀所述介质层至所述缓冲层的上表面,以于所述介质层中形成若干开口;于所述开口中填充氧化材料层,以制备所述背照式传感器;所述缓冲层包括单层缓冲结构和复合缓冲结构,所述单层缓冲结构设置在除去纯白像素和三基色像素之外的其他像素上;所述复合缓冲结构设置在所述纯白像素上或者所述三基色像素上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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