[发明专利]芯片自动化测试系统在审
| 申请号： | 201510779648.8 | 申请日： | 2015-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN105334448A | 公开（公告）日： | 2016-02-17 |
| 发明（设计）人： | 孙马秋;王晓玲;杨芬 | 申请（专利权）人： | 昆腾微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100195 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片自动化测试系统。该系统包括用于芯片的自动化测试控制装置和用于芯片的自动化测试板。上述用于芯片的自动化测试控制装置包括：测试控制模块，用于生成测试程序选择命令，向自动化测试板发送所述测试程序选择命令，所述测试程序选择命令用于从自动化测试程序中选择测试子程序，所述自动化测试程序包括两个以上测试子程序；测试结果接收模块，用于接收所述自动化测试板发送的测试结果。本发明用以避免反复对不同测试程序进行烧写，从而避免测试时出错，节省时间，容易维护，并且减少了板子之间的级联，避免多级板子之间级联造成信号质量差的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自动化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种用于芯片的自动化测试控制装置，其特征在于，包括：测试控制模块，用于生成测试程序选择命令，向自动化测试板发送所述测试程序选择命令，所述测试程序选择命令用于从自动化测试程序中选择测试子程序，所述自动化测试程序包括两个以上测试子程序；测试结果接收模块，用于接收所述自动化测试板发送的测试结果。
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