[发明专利]离子阱低质量数截止值串级质谱分析方法

摘要

本发明属于质谱分析测试技术领域，具体为离子阱低质量数截止值串级质谱分析方法。包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量分析三个阶段。在碰撞诱导解离阶段，通过扫描数字方波电源的频率，从低频率向高频率进行线性扫描，并在实施过程中同时加载一定的激发方波电压，实现被分析母体离子的激发和解离，并可以检测到母体离子低质量数碎片离子产物。本发明优点在于不需要改变硬件和设备，通过软件控制即可实现数字方波电源的频率变化,解决了传统离子阱质谱仪在串级质谱过程中低质量数检测的主要难点；还进一步提升离子阱质谱仪的串级质谱解离效率，丰富了碎片离子信息，有助于对母离子结构的分析；从而提高了离子阱质谱仪的性能和应用领域。

主权项

离子阱低质量数截止值串级质谱分析方法，其特征在于依次包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段；具体过程如下：（1）离子选择隔离阶段，将被选择的母体离子隔离出来，被隔离的母体离子在离子阱射频工作电压产生的电场作用下，通过与中性气体分子的碰撞、冷却，束缚在离子阱中；（2）碰撞诱导解离阶段，在离子阱质量分析器中，施加射频工作电压，幅度保持不变；同时，对施加在离子阱电极上的射频工作电压频率进行线性扫描，在该过程中加载一定的偶极激发电压，驱动母离子在射频工作电压频率线性扫描过程中获得的能量被激发，偏离离子阱束缚离子中心地带，被激发的母体离子产生高速运动，与离子阱中的中性分子发生碰撞并解离，产生母离子解离的最低质量数碎片离子，该最低质量数的碎片离子在离子阱中经过冷却后被束缚；（3）质量扫描分析阶段，当母体离子经碰撞诱导解离后，对射频工作电压信号从高频往低频进行线性扫描，碎片离子在偶极激发电压的作用下，发生共振激发，弹出离子阱，最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出，被安置在离子阱外的离子探测器检测到，获得离子的质谱信号。