[发明专利]电子设备的耗电测试方法及装置有效
| 申请号： | 201510781799.7 | 申请日： | 2015-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN105277830B | 公开（公告）日： | 2018-09-11 |
| 发明（设计）人： | 关亮 | 申请（专利权）人： | 北京金山安全软件有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种电子设备的耗电测试方法及装置。其中，该方法包括：获取电子设备的型号信息，确定与型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景；根据测试场景确定对应的应用程序和测试时间，并将应用程序安装至待测电子设备；在待测电子设备中运行应用程序，并在测试时间达到之后记录待测电子设备的耗电情况。该实施例的电子设备的耗电测试方法，基于用户的使用场景对电子设备耗电进行测试，准确测试了电子设备的耗电情况，进而可准确为用户提供电子设备耗电情况。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 耗电 测试 测试方法及装置 测试场景 应用程序 应用程序安装 用户提供电子 使用场景 记录 | ||
【主权项】：
1.一种电子设备的耗电测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取所述电子设备的型号信息；确定与所述型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景；根据所述测试场景确定对应的应用程序和测试时间，并将所述应用程序安装至所述待测电子设备；在所述待测电子设备中运行所述应用程序，并在测试时间达到之后记录所述待测电子设备的耗电情况；所述确定与所述型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景，包括：获取使用所述型号信息的电子设备的用户习惯数据，并对包含用户习惯数据的大数据进行分析，确定在测试待测电子设备时，用户在这个时间段经常使用的应用程序，并根据应用程序所属的类别确定待测电子设备的测试场景；所述根据所述测试场景确定对应的应用程序具体包括：根据所述待测电子设备的测试场景确定对应的应用程序类别；根据使用频率对应用程序商店中所述应用程序类别下的应用程序进行排序；以及将使用频率最高的应用程序作为安装的所述应用程序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京金山安全软件有限公司，未经北京金山安全软件有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510781799.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
