[发明专利]具有石墨芯的复合晶片及其制造方法有效
申请号: | 201510782054.2 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN105428213B | 公开(公告)日: | 2019-12-17 |
发明(设计)人: | R.贝尔格;H.格鲁贝尔;W.莱纳特;G.鲁尔;R.弗尔格;A.莫德;H-J.舒尔策;K.凯勒曼;M.佐默;C.罗特迈尔;R.鲁普 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/20;H01L21/762 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 胡莉莉;刘春元 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及具有石墨芯的复合晶片及其制造方法。根据一个实施例,一种复合晶片包括具有石墨层的载体基板以及附着到载体基板的单晶半导体层。 | ||
搜索关键词: | 复合晶片 载体基板 单晶半导体层 石墨层 石墨芯 附着 制造 | ||
【主权项】:
1.一种用于制造复合晶片的方法,包括:/n提供包括石墨芯和封装所述石墨芯的保护结构的载体晶片;/n在所述载体晶片和单晶半导体晶片中的至少一个上形成接合层,所述接合层包括碳粉和沥青中的至少一个;以及/n通过所述接合层使所述单晶半导体晶片接合到所述载体晶片;/n其中,所述接合包括采用退火工艺来使所述接合层转化成石墨层。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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